一、磁粉探傷的原理
　　它的基本原理是：當(dāng)工件磁化時(shí)，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁，形成局部磁場(chǎng)，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。
二、磁粉探傷儀的基礎(chǔ)知識(shí)
　　1、按工件磁化方向的不同，可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。
　　2、按采用磁化電流的不同可分為：直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。
　　3、按探傷所采用磁粉的配制不同，可分為干粉法和濕粉法。
三、磁粉探傷的缺陷
　　磁粉探傷設(shè)備簡單、操作容易、檢驗(yàn)迅速、具有較高的探傷靈敏度，可用來發(fā)現(xiàn)鐵磁材料鎳、鈷及其合金、碳素鋼及某些合金鋼的表面或近表面的缺陷;它適于薄壁件或焊縫表面裂紋的檢驗(yàn)，也能顯露出一定深度和大小的未焊透缺陷;但難于發(fā)現(xiàn)氣孔、夾碴及隱藏在焊縫深處的缺陷。
四、缺陷磁痕類型
　　1、各種工藝性質(zhì)缺陷的磁痕;
　　2、材料夾渣帶來的發(fā)紋磁痕;
　　3、夾渣、氣孔帶來的點(diǎn)狀磁痕。
五、產(chǎn)生漏磁的原因
　　由于鐵磁性材料的磁率遠(yuǎn)大于非鐵磁材料的導(dǎo)磁率，根據(jù)工件被磁化后的磁通密度B=μH來分析，在工件的單位面積上穿過B根磁線，而在缺陷區(qū)域的單位面積上不能容許B根磁力線通過，就迫使一部分磁力線擠到缺陷下面的材料里，其它磁力線不得不被迫逸出工件表面以外出形成漏磁，磁粉將被這樣所引起的漏磁所吸引。
六、產(chǎn)生漏磁的影響因素
　　1、缺陷的磁導(dǎo)率：缺陷的磁導(dǎo)率越小、則漏磁越強(qiáng)。
　　2、磁化磁場(chǎng)強(qiáng)度（磁化力）大小：磁化力越大、漏磁越強(qiáng)。
　　3、被檢工件的形狀和尺寸、缺陷的形狀大小、埋藏深度等：當(dāng)其他條件相同時(shí)，埋藏在表面下深度相同的氣孔產(chǎn)生的漏磁要比橫向裂紋所產(chǎn)生的漏磁要小。
七、某些零件為什么要退磁
　　某些轉(zhuǎn)動(dòng)部件的剩磁將會(huì)吸引鐵屑而使部件在轉(zhuǎn)動(dòng)中產(chǎn)生摩擦損壞，如軸類軸承等。某些零件的剩磁將會(huì)使附近的儀表指示失常。因此某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁處理。
八、什么是電磁感應(yīng)?
　　通過閉合回路的磁通量發(fā)生變化，而在回路中產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象稱為電磁感應(yīng);這樣產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)稱為感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)，如果導(dǎo)體是個(gè)閉合回路，將有電流流過，其電流稱為感生電流;變壓器，發(fā)電機(jī)、各種電感線圈都是根據(jù)電磁感應(yīng)原理工作。
九、磁粉探頭的安全操作要求?
　　1、當(dāng)工件直接通過電磁化時(shí)，要注意夾頭間的接觸不良、或用了太大的磁化電流引起打弧閃光，應(yīng)戴防護(hù)眼鏡，同時(shí)不應(yīng)在有可能燃?xì)怏w的場(chǎng)合使用;
　　2、在連續(xù)使用濕法磁懸液時(shí)，皮膚上可涂防護(hù)膏;
　　3、如用于水磁懸液，設(shè)備須接地良好，以防觸電;4、在用繭火磁粉時(shí)，所用紫外線必須經(jīng)濾光器，以保護(hù)眼睛和皮膚。
十、為什么要使用靈敏試片?
　　使用靈敏試片目的在于檢驗(yàn)磁粉和磁懸液的性能和連續(xù)法中確定試件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向以及操作方法是否正確等綜合因素。
十一、什么叫磁性?
　　指金屬具有導(dǎo)磁的性能;從實(shí)用意義講如：可用磁性材料（金屬）制造*磁鐵、電工材料，也可用磁性來檢查磁性金屬是否有裂紋等。
十二、磁粉檢驗(yàn)規(guī)程包括哪些內(nèi)容?
　　1、規(guī)程的適用范圍;2、磁化方法（包括磁化規(guī)范、工件表面的準(zhǔn)備）;3、磁粉（包括粒度、顏色、磁懸液與熒光磁懸液的配制）。4、試片;5、技術(shù)操作;6、質(zhì)量評(píng)定與檢驗(yàn)記錄。
十三、磁粉探傷適用范圍?
　　1、適用于檢測(cè)鐵磁性材料工件表面和近表面尺寸很小，間隙極窄的裂紋和目視難以看出的缺陷.
　　2、適用于檢測(cè)馬氏體不銹鋼和沉淀硬化不銹鋼材料，不適用于檢測(cè)奧氏體不銹鋼材料.
　　3、適用于檢測(cè)未加工的原材料（如綱坯）和加工的半成品、成品件及在役與使用過的工件.
　　4、適用于檢測(cè)管材棒材板材形材和鍛鋼件鑄鋼件及焊接件.
　　5、使用于檢測(cè)工件表面和近表面的缺陷，但不適用于檢測(cè)工件表面淺而寬的缺陷、埋藏較深的內(nèi)部缺陷和延伸方向與磁力線方向夾角小于20度的缺陷。