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涂鍍層測厚儀的分類及注意事項
日期：2015-05-26瀏覽：1966次
涂鍍層測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量*的檢測儀器，廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度。有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
涂鍍層測厚儀按照測量原理一般有以下幾種:
激光測厚儀：是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。
X射線測厚儀：利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工.適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低。
薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。適合測量金屬、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。
使用儀器時應當遵守的規定，基體金屬特性對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。基體金屬厚度用以檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。邊緣效應不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。不應在試件的彎曲表面上測量。通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
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